Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Handbook of Optical Dimensional Metrology, Harding, Kevin


Варианты приобретения
Цена: 30624.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
Deprecated: substr(): Passing null to parameter #1 ($string) of type string is deprecated in E:\WWW\html\prod_show.php on line 417

Deprecated: substr(): Passing null to parameter #1 ($string) of type string is deprecated in E:\WWW\html\prod_show.php on line 418

При оформлении заказа до:
Ориентировочная дата поставки:
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Harding, Kevin
Название:  Handbook of Optical Dimensional Metrology
ISBN: 9781439854815
Издательство: Taylor&Francis
Классификация:


ISBN-10: 1439854815
Обложка/Формат: Hardback
Страницы: 506
Вес: 1.12 кг.
Дата издания: 26.02.2013
Серия: Series in optics and optoelectronics
Язык: English
Иллюстрации: 5 tables, black and white; 369 illustrations, black and white
Размер: 260 x 181 x 33
Читательская аудитория: Postgraduate, research & scholarly
Рейтинг:
Поставляется из: Европейский союз


Handbook of Optical Dimensional Metrology

Автор: Harding, Kevin
Название: Handbook of Optical Dimensional Metrology
ISBN: 0367576511 ISBN-13(EAN): 9780367576516
Издательство: Taylor&Francis
Рейтинг:
Цена: 7808.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Introduction to Quantum Metrology

Автор: Waldemar Nawrocki
Название: Introduction to Quantum Metrology
ISBN: 3319384791 ISBN-13(EAN): 9783319384795
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 13677.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book presents the theory of quantum effects used in metrology and results of the author`s own research in the field of quantum electronics.

Metrology

Автор: Wei Gao
Название: Metrology
ISBN: 9811049378 ISBN-13(EAN): 9789811049378
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 48786.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The aim of this handbook is to provide a comprehensive summary of sensing and measurement in precision manufacturing, which is essential for process and quality control. The importance of precision sensing and measurements lies not only in the ability to distinguish whether the manufactured part meets the assigned tolerances through inspection but also, in many cases, reduce the deviation of the manufactured part from the designed values through improvement of the process or compensation manufacturing based on the sensing and measurement results. The information provided in the book will be of interest to industrial practitioners and researchers in the field of precision manufacturing sensing and measurements.

This volume is part of a handbook series that covers a comprehensive range of scientific and technological matters in ‘Precision Manufacturing’.
Handbook of Optical Metrology

Автор: Yoshizawa, Toru
Название: Handbook of Optical Metrology
ISBN: 1466573597 ISBN-13(EAN): 9781466573598
Издательство: Taylor&Francis
Рейтинг:
Цена: 40577.00 р.
Наличие на складе: Нет в наличии.

Graphene Nanoelectronics

Автор: Hassan Raza
Название: Graphene Nanoelectronics
ISBN: 3662519909 ISBN-13(EAN): 9783662519905
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15957.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Graphene Nanoelectronics provides an overview of the most advanced topics in theory, experiments, spectroscopy and applications of graphene and its nanostructures. It is written in tutorial, review-like manner, yielding a book useful to experts as well as those new to the field.

Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices

Автор: Celano
Название: Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices
ISBN: 3319395300 ISBN-13(EAN): 9783319395302
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 14635.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание:

This thesis presents the first direct observations of the 3D-shape, size and electrical properties of nanoscale filaments, made possible by a new Scanning Probe Microscopy-based tomography technique referred to as scalpel SPM. Using this innovative technology and nm-scale observations, the author achieves essential insights into the filament formation mechanisms, improves the understanding required for device optimization, and experimentally observes phenomena that had previously been only theoretically proposed.

ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия