Encyclopedia of Scanning Electron Microscopy 9781632381668

Варианты приобретения

Цена: 23335.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ. Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть
При оформлении заказа до: 2026-05-11
Ориентировочная дата поставки: Июнь
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину

в Мои желания

Название: Encyclopedia of Scanning Electron Microscopy
ISBN: 9781632381668
Издательство: NY Research Press
Классификация:

Научное оборудование, научные эксперименты и методы

Микроскопические исследования

ISBN-10: 1632381664
Обложка/Формат: Hardcover
Страницы: 324
Вес: 0.60 кг.
Дата издания: 30.01.2015
Язык: English
Размер: 162 x 237 x 2
Поставляется из: США
Описание: This book focuses on various issues concerned with scanning electron microscopy, as well as its theoretical and practical applications. Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments employed in various science fields. SEMs are well instrumented and supplemented with advanced techniques and methods and thereby present endless possibilities in the areas of quantitative measurement of object topologies, surface imaging, performing elemental analysis and local electrophysical characteristics of semiconductor structures. Creation of micro and nanostructures involves extensive use of fine focused e-beam. Numerous topics are covered under two sections Instrumentation, Methodology and Biology, Medicine for electronic industry. This book includes contributions by renowned researchers and experts in this field.

Encyclopedia of Scanning Electron Microscopy,